作者:楚珺尧 单位:中国计量科学研究院 出版:《中国计量》2015年第08期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJILA2015080380 DOC编号:DOCJILA2015080389 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 美国国家标准与技术研究院(NIST)开发了一种应用于原子力显微镜(AFM)的新型传感器。校准AFM针尖的工具嵌入传感器中,可以避免在狭小空间校准针尖时必须将针尖移出从而导致结果偏差的问题。AFM可以识别小到原子的特征,用一个灵活带尖细针的悬臂“触感”物体表面。通过针尖上原子与物体表面原子间相互作用引起悬臂弯曲,揭示最细微特征。由于这种力相当微弱,研究人员通过

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