《利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法》PDF+DOC
作者:王庆有,于涓汇,郭青,张盛彬
单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会
出版:《光电工程》2002年第04期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGDGC2002040050
DOC编号:DOCGDGC2002040059
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用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程。该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的“应力-应变”关系曲线。采用CCD拼接技术,测量精度可达到1mm,测量范围80mm。
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