《一种自动测试设备用混合式智能型开关矩阵》PDF+DOC
作者:张列刚,肖文杰,杨江平
单位:装备学院科研部
出版:《装备学院学报》2002年第05期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFXYZH2002050200
DOC编号:DOCXYZH2002050209
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在将自动测试设备 (ATE)应用于印制电路板 (PCB)的测试中 ,开关矩阵的性能将直接影响到ATE的通用性。针对传统的开关矩阵设计方法 ,提出了一种混合式智能型开关矩阵 ,将其应用于KLJ95 - 1型雷达电路单元自动测试设备中 ,获得了满意的效果。
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