作者:张列刚,肖文杰,杨江平 单位:装备学院科研部 出版:《装备学院学报》2002年第05期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXYZH2002050200 DOC编号:DOCXYZH2002050209 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在将自动测试设备 (ATE)应用于印制电路板 (PCB)的测试中 ,开关矩阵的性能将直接影响到ATE的通用性。针对传统的开关矩阵设计方法 ,提出了一种混合式智能型开关矩阵 ,将其应用于KLJ95 - 1型雷达电路单元自动测试设备中 ,获得了满意的效果。

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