作者:李为民,俞巧云,王骞,李杜,邓伟平 单位:中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版:《光电工程》2002年第S1期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGDGC2002S10080 DOC编号:DOCGDGC2002S10089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《反射式光纤位移传感器的实验与研究》PDF+DOC2016年第06期 刘冬,崔陆军,李春广,王亚军 《LAMOST光纤定位单元定位精度检测技术研究》PDF+DOC2001年第02期 李为民,邢晓正,俞巧云,翟超,邓伟平,李静,胡红专 《宇宙射线对面阵CCD器件的伤害及预防措施》PDF+DOC2000年第06期 林家明,杨隆荣 《斜角光纤耦合原理分析及其应用——光纤转角传感器》PDF+DOC1990年第03期 陶宝祺,李威宣,曹宜贵 《光纤测量表面粗糙度的试验研究》PDF+DOC1989年第04期 王玉田,史锦珊 《位置传感技术研究进展》PDF+DOC2005年第10期 刘增辉,赖英旭 《一种光纤式数字塞规仪的设计》PDF+DOC2004年第02期 杨秀华,赵世平,廖俊必 《一种非接触式角位移传感器的设计》PDF+DOC2012年第06期 刘荣先 《适用于恶劣环境的角度传感器》PDF+DOC2009年第01期 《基于激光CCD技术的动态倾角测试系统》PDF+DOC2007年第07期 何社阳,董庆伟,黄晓东
  • 介绍对光纤端部位置的非接触检测方法。以面阵CCD为传感器,检测光纤端部出射光斑,采用“重心法”提取光斑的特征点表征光纤的位置。着重分析了光源稳定性、CCD性能、AD采样位数对测量结果稳定性的影响。实验表明,基于特征点对光纤端部检测,重复精度达到0.7%的CCD像素,系统具有良好的稳定性。

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