作者:俞阿龙 单位:重庆西南信息有限公司 出版:《电工技术》2002年第10期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDGJY2002100260 DOC编号:DOCDGJY2002100269 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文介绍比值采样法在薄膜厚度测量仪的应用,详细叙述了测量系统的组成原理和主要单元电路的设计。通过采用比值采样技术,在不采用高性能元件的前提下,提高系统测量精度。

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