作者:孙以材,孟凡斌,潘国峰,刘盘阁,姬荣琴 单位:中国科学院半导体研究所;中国电子学会 出版:《Journal of Semiconductors》2002年第05期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTX2002050200 DOC编号:DOCBDTX2002050209 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《压力传感器芯片的低温玻璃封接技术》PDF+DOC1999年第01期 沈今楷,孙以材,常志宏,贾德贵,孟庆浩,高振斌,杨瑞霞
  • 对淬火态及重熔再凝固态两种粉末进行 DSC、红外吸收光谱及 X射线衍射谱分析 ,实验表明 ,淬火态的软化点低 ,在 5 0 0~ 5 10℃下完全熔化 ,有利于芯片的低温封接 .重熔再凝固态的熔点高 ( 63 0℃ )、热稳定性好 ,有利于器件的使用 .进一步研究表明 ,淬火态为无序态 ,再凝固态为结晶态 ,其中存在 Pb2 Zn B2 O6 的晶体相 .无论是在无序态中还是在结晶态中 ,[BO3]3- 离子团都不会破裂 ,均出现其分子振动的特征简正模 。

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