作者：王庆有,蔡锐,马愈昭,齐龙 单位：中国科学院光电技术研究所;中国光学学会 出版：《光电工程》2003年第06期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGDGC2003060100 DOC编号：DOCGDGC2003060109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 采用面阵CCD对大尺寸轴径进行高精度的拼接非接触测量，克服了单片面阵CCD测量范围小的缺点，解决了用线阵CCD拼接测量时测量带太窄又不能扩展情况下所带来的问题。面阵CCD进行图像拼接的测量方法，适用于测量128-135mm的轴径，其测量精度高达&#177；0.01mm。

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