《用于微观几何形状测量的扫描探针显微技术》PDF+DOC
作者:王晓东,常城,宋洪侠
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2003年第09期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2003090030
DOC编号:DOCCGQJ2003090039
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随着微技术的发展,对微观结构的精确测量变得越来越重要。对能够用于微观几何形状测量的扫描探针显微技术———扫描隧道显微术(STM)、扫描光学近场显微术(SNOM)和原子力显微术(AFM)进行了比较详细的分析和介绍。
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