《无损检测技术在垂直Bridgman晶体生长中的应用》PDF+DOC
作者：魏捷,黄为民,沈昱明
单位：中国仪器仪表学会
出版：《仪器仪表学报》2003年第S2期
页数：4页 （PDF与DOC格式可能不同）
PDF编号：PDFYQXB2003S21310
DOC编号：DOCYQXB2003S21319
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《半导体材料与敏感元件》PDF+DOC1988年第01期 张桂成
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分别介绍了国内外X射线检测法、超声波检测法以及涡电流检测法第三种无损检测法在垂直Bridgman晶体生长中的应用，讨论了其各自的优缺点。
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