《用激光束成像法测量双E型硅弹性膜应变》PDF+DOC
作者:邓永和
单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
出版:《微纳电子技术》2003年第06期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTQ2003060100
DOC编号:DOCBDTQ2003060109
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报道了用激光束成像法对双E型传感器的硅弹性膜在不同压力情况下的应变进行的研究,并测出该弹性膜的应变情况。此方法对其他形式的敏感芯片应变的研究具有一定的参考价值。
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