《用激光束成像法测量双E型硅弹性膜应变》PDF+DOC
作者:唐世洪,邓永和,叶伏秋,刘生长
单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
出版:《传感器与微系统》2003年第05期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGQJ2003050030
DOC编号:DOCCGQJ2003050039
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用激光束成像法对双E型传感器的硅弹性膜应变进行的研究,测出了该弹性膜的应变情况,此方法对其它结构形式的敏感芯片应变的研究也有一定的参考价值。
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