作者:朱小平 单位:中国计量科学研究院;中国合格评定国家认可中心 出版:《中国检验检测》2003年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFXDJL2003010050 DOC编号:DOCXDJL2003010059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文提出一种采用CCD器件作为光学传感器来实现对刻线的自动瞄准方法 ,在对刻线影像数据的处理中首次提出并实现了三种不同的算法。通过对这三种不同处理算法进行了详细有效对比研究试验 ,结果表明 :采用这种自动瞄准算法是成功和可行的 ,它对CCD用于刻线的自动瞄准具有普遍意义 ,将带来广泛的应用。

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