作者：王体辉,贺正权,王忠厚,李育林,张向东,方家美 单位：中国光学学会;中国科学院西安光学精密机械研究所 出版：《光子学报》2003年第07期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGZXB2003070180 DOC编号：DOCGZXB2003070189 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 利用晶体双折射和由散射偏振引起的光学干涉技术 ，设计出一种高精度光学位移传感器 该传感器采用同轴光学系统 ，测量精度约为 4 μm ，测量范围不小于 2 8mm ，且测量时不需要使用相干光源 ，故结构紧凑、性能稳定

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