作者:顾聚兴 单位:中国科学院上海技术物理研究所 出版:《红外》2003年第09期 页数:1页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHWAI2003090180 DOC编号:DOCHWAI2003090189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 一、测试 1.用双狭缝方法测试红外传感器的性能(A.N.de Jong等,荷兰TNO) 2.“灰背隼”(Merlin)测辐射热计摄像机的定标(W.J.Green等,美国琼斯霍普金斯大学) 3.高密度红外焦平面的表征/测量软件(C.F.Walmsley,英国Walmsley微电子公司)

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