作者:马廷锋,耿世钧,徐建平,曹晓华 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2003年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2003060070 DOC编号:DOCCGQJ2003060079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介绍研制成功的一种单片电容式传感器的测头工作原理 ,提出了一种用于非金属薄膜测厚的单片电容式检测技术。通过对测量准确度的分析和实际应用 ,证明效果良好 ,在纸张、塑料薄膜、工业胶片及纬编织物等非金属薄膜测厚方面有很大的实用价值。

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