作者：程军 单位：工业和信息化部电子第五研究所 出版：《电子产品可靠性与环境试验》2003年第02期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZKH2003020140 DOC编号：DOCDZKH2003020149 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 硅压力传感器可靠性测试技术研究受到了国内外的重视，对它的测试项目及其加速寿命测试方法进行了综述。

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