作者：王耀祥,田维坚,黄琨,张薇,汪丽 单位：中国光学学会;中国科学院西安光学精密机械研究所 出版：《光子学报》2004年第03期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGZXB2004030160 DOC编号：DOCGZXB2004030169 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 光锥与CCD的耦合技术是研制ICCD图像传感器的关键技术 ，本文主要从理论上分析并讨论了光锥与CCD耦合器件的耦合效率及其影响因素 ，进一步分析讨论了耦合效率对耦合器件信噪比的影响 证明了光锥与CCD的耦合效率不仅降低ICCD探测效率而且降低ICCD信噪比 ，并提出了提高光锥与CCD耦合效率的方法和途径

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