作者：赵静,林鸿湘,邱棠,陈静芳 单位：中国光学学会;中国科学院西安光学精密机械研究所 出版：《光子学报》2016年第06期 页数：7页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFGZXB2016060120 DOC编号：DOCGZXB2016060129 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 基于马赫曾德干涉原理，设计搭建了可调制与放大干涉条纹的光压测量装置.由频率和功率可调制脉冲激光产生光压，使真空中两面高反镀铝薄膜产生微小形变(位移)，从而使由氦氖激光器发射、经半反半透镜分束的参考光和信号光的光程差改变，即干涉条纹发生改变.用CCD记录干涉条纹位移量，数据处理获得干涉条纹位移量和薄膜形变量的关系，计算出脉冲激光在薄膜处的光压.分别讨论了脉冲激光入射角度、频率等参量对检测结果的影响，并通过双角度入射方法消除了热辐射效应的影响.该检测装置可测得最小光功率为15.0mW所产生的光压大小为13.42μPa，线性工作范围为15.0mW(13.42μPa)至200mW(1179μPa)，且工作稳定、灵敏度高，测量结果准确。

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