作者：孙运泰 单位：黑龙江省科普事业中心 出版：《科学技术创新》2004年第02期 页数：1页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFHLKX2004020580 DOC编号：DOCHLKX2004020589 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 一、前言。零位漂移是扩散硅压力传感器(简称芯片)的一个关键指标参数，它代表传感器长期工作的稳定性。以往的测量方法是每隔一段时间(通常为二小时)，由人手记录测量数据，最后由人手判断测量数据的最大、最小值，从而计算测量结果。因间隔时间太长，特别是下班后无法记录，测量结果不能反映真实的情况。同时因测试芯片数量太多，工人的任务相当繁重，也容易造成错误，有必要实行自动化测试。芯片内部实际上是一个惠斯登平衡

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