《漏磁法测量导磁材料的厚度及缺陷》PDF+DOC
作者:左建勇,颜国正,丁国清,付西光,张云伟
单位:上海交通大学
出版:《上海交通大学学报》2004年第07期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFSHJT2004070020
DOC编号:DOCSHJT2004070029
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阐述了电磁式漏磁通法检测导磁材料厚度及缺陷的原理 ,推导了厚度测量的理论依据 .基于该原理设计了传感器 ,建立了试验平台 ,并对影响传感器特性的单一因素进行了试验与分析 .结果表明 :采用聚磁件 ,减小提高距离 ,增加线圈匝数和励磁电流 ,减小传感器列间隙 ,减少磁化时间均可提高传感器分辨率 ;环境温度对测量结果影响可以忽略 ;对缺陷只能作定性检测 ;被测对象的材质对测量结果影响较大 ,检测不同材质对象时应分别标定
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