作者：余震,文艺 单位：中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版：《传感器与微系统》2004年第07期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFCGQJ2004070190 DOC编号：DOCCGQJ2004070199 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 通过分析基于线阵CCD传感器的一维尺寸测量原理，提出了采用拼接技术测量较大一维尺寸的测量方案，并系统分析了该方案的测量误差。实验表明：采用该方案进行一维尺寸测量时，可以达到较大的测量范围和较高的测量准确度。

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