作者：杨秀华,赵世平,廖俊必 单位：中国测试技术研究院 出版：《中国测试》2004年第02期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFSYCS2004020050 DOC编号：DOCSYCS2004020059 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文通过采用反射式光纤位移传感器 ，改变了目前数字式塞规中只能用气浮塞规进行内孔的快速、高精度、非接触测量的历史 ，并对仪器进行了误差分析。

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