作者:张永枫 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2004年第09期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2004090320 DOC编号:DOCCGQJ2004090329 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 阐述了相关技术的数学模型及有关参数的基本含义,介绍了如何将相关技术与光电检测技术相结合实现工件缺陷检测的基本原理与检测方法,通过图形和波形描述了系统的组成和判断工件缺陷的基本过程。根据实际测试结果说明了该系统测试工件缺陷的优点及所能达到的测试指标,并提出进一步改进的设想。

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