《基于多CIS的PCB基板缺陷自动光学检测系统》PDF+DOC
作者:刘万春,陈小春,朱玉文,刘建君
单位:中国电子科技集团第四十五研究所
出版:《电子工业专用设备》2005年第07期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDGZS2005070100
DOC编号:DOCDGZS2005070109
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提出一种利用多CIS实现的检测PCB基板缺陷的新方法。采用多条CIS并行工作,并利用EZ-USBFX2作为USB接口控制器,高速地将CIS采集的图像数据向主机传送,应用程序再将得到的PCB图像数据进行处理,从而检测出PCB基板的缺陷。
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