《用电子散斑法对纯镍薄片弯曲变形的测量》PDF+DOC

由于建立的电子散斑法有位移测量精度高、量程大的特点，且自制的力传感器灵敏度高、量程相 对较大，从而保证了本实验中镍片在三点弯中的反应被全程、精确地记录下来.基于时间序列的电子散斑法， 测出了10-100μm不同厚度的纯镍薄片在三点弯下的载荷-位移曲线，其中包括弹性部分以及进入塑性屈服 两个阶段，据此可以推出不同厚度镍片的三点弯刚度.实验表明镍片的抗弯刚度受其厚度的影响很大，尤其在 薄片厚度较小时表现得更为明显，即表现出明显的尺度效应。

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