《电荷耦合器件光度检测-深通道多相层流微流控芯片分析系统》PDF+DOC
作者:沈宏,叶美英,方群,殷学锋
单位:中国化学会;中国科学院长春应用化学研究所
出版:《》
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFFXHX2005110350
DOC编号:DOCFXHX2005110359
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采用精密数控雕刻技术,加工用于微流控多相层流分析的深通道(深度500μm)聚碳酸酯芯片,以提高芯片进行吸收光度检测的灵敏度。建立了无需辅助光学设备的近距离CCD二维图像光度检测系统,应用于三流路并行的多相层流比色分析。该芯片分析系统的特点是芯片加工快捷,检测灵敏度高,检测光程较常规芯片增加1个数量级;系统结构简单,易于推广。
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