《微位移测试系统设计》PDF+DOC
作者:左勇,刘梦夏,李伟
单位:沈阳仪表科学研究院有限公司
出版:《仪表技术与传感器》2005年第12期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYBJS2005120230
DOC编号:DOCYBJS2005120239
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采用了在压电陶瓷基体上直接粘贴电阻应变片组成电桥测量压电陶瓷微位移的方法。以微控制器 AT89C52为核心设计了微位移测试系统。文中详细介绍了放大、滤波等信号调理电路,A/D 转换电路,D/A 转换电路,LED 显示电路和看门狗及其电源监控电路等。该系统已经过调试运行,实验证明了用该方法测量压电陶瓷微位移的方法是可行的。
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