《利用单片机实现微加速度计性能自动测试》PDF+DOC
作者:冯宇翔,董景新,赵长德,吴天准
单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
出版:《微纳电子技术》2005年第07期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFBDTQ2005070070
DOC编号:DOCBDTQ2005070079
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利用ATMEL公司的高速嵌入式单片机实现MEMS加速度计性能指标的自动测试,对系统中的模拟地与数字地分离、正负电压上电时间控制、温度信息采集、串口通讯协议等细节作了详细分析。结果表明,这是一个低价而可靠的微加速度计自动测试解决方案。
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