作者:冯宇翔,董景新,赵长德,吴天准 单位:中国电子科技集团公司第十三研究所 出版:《微纳电子技术》2005年第07期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTQ2005070070 DOC编号:DOCBDTQ2005070079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 利用ATMEL公司的高速嵌入式单片机实现MEMS加速度计性能指标的自动测试,对系统中的模拟地与数字地分离、正负电压上电时间控制、温度信息采集、串口通讯协议等细节作了详细分析。结果表明,这是一个低价而可靠的微加速度计自动测试解决方案。

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