《楔焊键合分离界面特性及阻抗分析》PDF+DOC
作者:李军辉,韩雷,钟掘
单位:中国机械工程学会
出版:《焊接学报》2005年第06期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFHJXB2005060070
DOC编号:DOCHJXB2005060079
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为认识超声键合机理,设计粗铝线楔焊键合试验,对分离的楔焊界面进行扫描电镜和EDS能谱仪测试分析,用GDS-820示波器采集电信号分析压电陶瓷(PZT)驱动的输入阻抗特性。结果表明,超声键合的界面模式形如脊皱圆环,中心和外边是未结合的摩擦痕,脊皱构成强度,相同参数条件下,一焊脊皱峰、输入阻抗大于二焊,一焊键合强度高于二焊。PZT的输入阻抗分析的结论与界面微结构判断一致。
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