作者:陈彬,于盛林 单位:中国船舶重工集团公司第七0九研究所 出版:《计算机与数字工程》2005年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJSSG2005010190 DOC编号:DOCJSSG2005010199 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文提出了电子电路故障诊断的一种新方法 ,以集成芯片热模式为出发点 ,利用红外测温传感器对电子电路中集成芯片温度进行有效的非接触测量 ,建立集成芯片工作温度标准热模式 (WTSTM ) ,并对电路板芯片若干故障现象进行试验。将实验结果与WTSTM进行比较分析 ,采用模糊推理算法确定传感器测量值对各诊断元件的隶属度函数 ,并根据隶属度来确定故障元件。论证了该方法的可行性和有效性。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。