作者：胡渝,荣健,胡渝 单位：中国仪器仪表学会 出版：《仪器仪表学报》2005年第S1期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYQXB2005S12990 DOC编号：DOCYQXB2005S12999 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 阐述了电荷耦合器件CCD的发展历程，综述了现阶段各国的发展现状，分析展望了CCD器件在未来的发展趋势。

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