作者:汪建宇,卢飞跃,黄海滨 单位:北京无线电技术研究所 出版:《电子测量技术》2005年第05期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZCL2005050200 DOC编号:DOCDZCL2005050209 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 文中介绍DT—1型智能式电子设备温度测试仪的原理、系统结构、硬件设计和软件设计等内容。该仪器采用单片机控制,具有电路简单,成本低,软件易于实现等优点。

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