作者:时凯,苏俊宏,白兆峰 单位:华中光电技术研究所;湖北省光学学会 出版:《光学与光电技术》2015年第06期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGXGD2015060160 DOC编号:DOCGXGD2015060169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 四波前横向剪切干涉仪的出现为精确、快速地测试激光波前信息提供了很好的研究方法。概述了四波前横向剪切干涉仪的测试原理,对532nm半导体激光器和ZYGO-GPI干涉仪标准激光源的光束波前进行测试,得到平均椭偏率分别为0.977和0.900。通过对测量数据与激光器标称参数对比分析得出四波前横向剪切干涉仪能够精确地测量激光波前信息。

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