《纳米级电容测微系统的研究》PDF+DOC
作者:于永新,周涛,郑义忠
单位:中国计量科学研究院
出版:《计量科学与技术》2005年第11期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJLJS2005110040
DOC编号:DOCJLJS2005110049
下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《纳米级电容测微系统的研究》PDF+DOC2005年第03期 史庆伟,周涛,郑义忠,张国雄
《压阻型地面气压传感器研制中的几个问题》PDF+DOC1985年第03期 杨经负
《高精度电容测微仪关键技术》PDF+DOC2004年第09期 李建文,刘书亮,付敬业,周涛,郑义忠
《差动电容式角度传感器》PDF+DOC1987年第04期 宋尔纯
《一种高分辨率接触式电容测微装置》PDF+DOC1987年第02期 庄永芳,冯伟明
《电容式微位移传感器检测电路的设计》PDF+DOC2005年第01期 孙立宁,晏祖根,陈立国
《扩散硅压力传感器的高精度误差补偿算法》PDF+DOC2012年第03期 朱龙俊
《一种非接触式的刀口角测量系统》PDF+DOC2012年第10期 李永强,熊正烨,封余军,黄存友,师文庆
《电容检测技术分析及差动变频检测电路设计》PDF+DOC2012年第10期 许立志,陈春兰
《一种高精度非接触式位移传感器及其应用》PDF+DOC2007年第07期 陈育荣,杨旭东,谢铁邦
本文首先介绍了非接触式高精度电容测微仪的基本工作原理,进而详细论述了纳米级电容测微技术中所涉及到的非线性误差、环境噪声等关键技术问题,对典型驱动电缆方案作了比较。根据原理模型,给出了仪器的主要结构。对仪器自身产生的各种误差进行了详细的分析,并提出了相应的消除或修正方法。换用不同有效直径的传感器可以使仪器分辨力达到0.1nm,测量范围±;2~±;50μm,满量程非线性优于0.5%。该仪器可广泛应用于通过串口、USB口通信的高精度动、静态微位移测量及纳米定位。
提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。