作者: 单位:信息产业部电子科学技术情报研究所 出版:《电子科技文摘》2005年第07期 页数:13页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDKWZ2005070160 DOC编号:DOCDKWZ2005070169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 用内部线路功能检查降低并行在线检验中的潜伏故障=Reducing fault latency in concurrent on-line testing byusing checking functions over internal lines[会,英]/Pomeranz,I.//Defect and Fault Tolerance in VLSI Sys-tems,2004.DFT 2004,Pmceedings.19th IEEE Inter-national Symposium on.—183-190(A)

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