作者:王婷婷,王俊 单位:中国航天机电集团公司八五一一研究所 出版:《航天电子对抗》2006年第06期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFHTDZ2006060100 DOC编号:DOCHTDZ2006060109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 分析了Chirp雷达系统中包络走动对积累检测的影响,然后提出了两种有效的积累算法:时移包络补偿积累算法和包络插值移位补偿积累算法,分析了其原理、步骤及运算量。仿真结果显示后者的性能要优于前者。这两种方法在低信噪比条件下都能够实现较长时间的有效积累。

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