作者:许新新,赵雷,华熹曦,郭琦,霍林,李惠军 单位:中国电子质量管理协会;信产部第五研究所 出版:《电子质量》2006年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZZN2006020020 DOC编号:DOCDZZN2006020029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 随着可编程逻辑器件(PLD)的功能日益强大,工作频率不断提高。由于片上多时钟域系统的集成,使得异步信号数量增加,由此带来了所谓的亚稳态(metastable)问题。亚稳态问题对器件的可靠性将造成严重影响。基于PLD器件亚稳态的成因与机理,本文提出一种简便、可靠的PLD器件亚稳态性能的测试方案。

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