《智能结构损伤的分布式光纤测试技术》PDF+DOC
作者:曹高峰,于芳芳,原博,魏涛
单位:辽宁省机械研究院
出版:《机械设计与制造》2008年第09期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFJSYZ2008090740
DOC编号:DOCJSYZ2008090749
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在智能结构局部发生变形时,其变形部位损伤程度可以用应变来表示。光纤在受力情况下发生弹光效应,即在应力作用下光纤材料的折射率将发生变化,通过测试折射率变化的信息就可以确定损伤发生的位置。推导了光纤分布式测试技术中反射光损耗与应变量之间的关系,发现在较大的应变范围内应变和损耗的关系是接近线性的,并用实验方法测试了损伤(应力变化)与功率损耗的关系,确定了损伤发生位置。
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