作者:李言,王凯,李旗,郗常清 单位:中国机械工程学会 出版:《中国机械工程》2006年第06期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZGJX2006060070 DOC编号:DOCZGJX2006060079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 对涡流式位移传感器测头的均化效应进行了理论分析,指出被测转子的细微轮廓可以被均化,其回转误差的测量不受均化影响。推导了均化效应的幅频特性曲面,根据此幅频特性,对采样数据的高次成分的失真现象进行了深入分析。

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