《中科泛华在NIDays 2006上展示测试解决方案》PDF+DOC
作者:
单位:中国电子信息产业发展院
出版:《世界电子元器件》2006年第11期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFSDYQ2006110260
DOC编号:DOCSDYQ2006110269
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在11月的“虚拟仪器技术盛会”NIDays2006上,北京中科泛华测控技术有限公司展出了“汽车传感器通用测试系统”和”电路板通用测试系统”,并有资深系统开发工程师黄鑫作了题为《实时技术在现代测试中的应用》的精彩演讲。
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