作者: 单位:中国电子科技集团第四十四研究所 出版:《半导体光电》1984年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTG1984010180 DOC编号:DOCBDTG1984010189 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为了在统一的测试条件和测试方法下,对国内光通信用短波长光源进行统一测试,掌握各类器件的现有水平和各家器件的特点,找出我国光通信用短波长光源与国际技术水平的差距,国家科委特委托电子工业部第四十四研究所组办全国GaAlAs发光二极管和激光二极管测试分析会。会议定于1984年3月初在四川永川正式开幕。会上,国内光通信领域的主要厂、所和大专院校的专家荟聚一堂,对各家的样品进行测试比较、分析讨论。通过这次

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