作者：梁洞泉 单位：中国化学会;中国科学院长春应用化学研究所 出版：《》 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFFXHX1980040090 DOC编号：DOCFXHX1980040099 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 纯铝中杂质的光谱分析，一般灵敏度为1&#215；10~(-3)—1&#215；10~(-2)％。采用化学分离富集的化学光谱法虽可把灵敏度提高到5&#215；10~(-6)—1&#215；10~(-2)％，但因溶样困难和试剂空白高等，高纯氧化铝采用这种方法分析是困难的。有人用蒸发光谱法测定氧化铝中杂质，灵敏度较高，但需一套特殊的蒸发设备，且只能分析Cd、Bi、Sb、Pb，Sn、Cu等较易挥发的元素。为寻找一种简便灵敏的直接光谱法，研究了谱线在直流电弧中的轴向强度分布，并拟定了一个阴极激发，阴极区照相

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