《X线断层扫描仪用新型闪烁晶体—锗酸铋(Bi_4Ge_3O_(12))单晶生长、性质及其应用研究》PDF+DOC
作者:何崇藩,沈炳孚,苏伟堂,罗昌渠,汪祖康,陈嘉华
单位:中国科学院上海硅酸盐研究所
出版:《无机材料学报》1981年第Z1期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFWGCL1981Z10040
DOC编号:DOCWGCL1981Z10049
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锗酸铋(BGO)晶体与常用的闪烁晶体NaI(TL)相比具有许多特点:原子序数高,阻挡射线能力强,有利于提高检测器械的空间分辨率;物理、化学性能稳定,不吸潮便于加工和维护。它已取代NaI(TL)在新近蓬勃发展起来的诊断癌症的先进器械——X线断层扫描仪(Computerized Tomography)中得到广泛应用。
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