作者：方芳 单位：机械工业部仪器仪表综合技术经济研究所;中国仪器仪表行业协会 出版：《中国仪器仪表》1982年第04期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFZYQB1982040160 DOC编号：DOCZYQB1982040169 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《高速高分辨率纵断面结构探测仪》PDF+DOC1996年第07期 Jerry R.Hobbs ,顾举兴 《温度变化对显微镜物镜系统的影响》PDF+DOC1988年第05期 凡山修治,董来旺 《产品放送》PDF+DOC2002年第11期 《提升你的显微镜》PDF+DOC2014年第18期 Mike May,高大海,姜天海 《线性色散设计的光谱共焦测量技术》PDF+DOC2014年第05期 刘乾,王洋,杨维川,袁道成 《Queensgate仪器推出双传感器技术 实现亚纳米级分辨率》PDF+DOC2013年第03期

    • 1982年4月在北京举行的《美国电子生产和半导体展览会》上，英国的维克斯仪器公司在我国首次展出了应变片式影像剪切显微镜，并就该产品举行了专项技术座谈。现将座谈的主要内容介绍如下。英国维克斯仪器公司生产的应变片式影像剪切显微镜是在 M41或 M17型显微镜的基础上设计制造的。其特点是在显微镜物镜和双筒目镜之间安插了一个影像剪切系统(见图1)。

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