作者：陶顺龙 单位：南京电子技术研究所 出版：《现代雷达》1982年第05期 页数：12页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFXDLD1982050020 DOC编号：DOCXDLD1982050029 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文叙述机内测试的设计过程。首先说明BIT设计人员的特点。然后，假设一个现代雷达模型，并说明如何进行BIT设计。文中给出了流程图和测试说明。在介绍雷达BIT技术之后，接着讨论了BIT的效率和性能参数。这些性能参数有：故障检测、故障隔离、测试充分度以及虚警率与容差设置的相互关系等。文中讨论了利用工厂给出的性能指标选取容差的效果，以及在雷达采购技术条件中包括现场性能下降值的建议。未来的BIT要求与高的系统可靠性都需要传统的维护概念有所革新。二级维护。甚至一级维护(组件废弃)的设想都是可能的。

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