《薄膜电阻真空计的研制》PDF+DOC
作者:李志强,于泓涛
单位:中国真空学会
出版:《真空科学与技术学报》1982年第04期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFZKKX1982040070
DOC编号:DOCZKKX1982040079
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薄膜电阻真空计的测量范围为1托~1000托,线性测量,测量精度优于5%,为全压强测量,测量值受被测气体种类影响较小。一、引言利用集成电路平面工艺在硅膜片上制作四个等值电阻,组成惠斯登电桥。硅膜片在不受力时,电桥处于平衡状态,电桥没有电压输出。硅膜片受到压力时,由于压阻效应,电桥处
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