作者: 单位:沈阳仪表科学研究院有限公司 出版:《仪表技术与传感器》1971年第04期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYBJS1971040020 DOC编号:DOCYBJS1971040029 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 由于射流技术的发展,对射流元件和其系统的动态测试越来越迫切。我们从射流元件研制的实际需要出发,遵照伟大领袖毛主席关于“一个正确的认识,往往需要经过由物质到精神,由精神到物质,即由实践到认识,由认识到实践这样多次的反复,才能够完成。”的教导,在射流元件动态性能测试仪的试制过程中,经过电阻式到压电式再由压电式到半导体应变片式多次反复试验,经过分析比较,试制成功了半导体应变片式的射流元件动态性能测

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