《膜片有效面积测定装置》PDF+DOC
作者:郭万泉,郑雪山
单位:沈阳仪表科学研究院有限公司
出版:《仪表技术与传感器》1980年第03期
页数:5页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYBJS1980030050
DOC编号:DOCYBJS1980030059
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本文叙述了膜片有效面积测定装置的原理,结构特点,技术参数及应用范围。该装置结构紧凑,操作方便,无摩擦阻力影响,并能自动描绘膜片特性曲线。
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