作者:郁金南 ,李一清 ,朱夙鸣 ,邓夙翔 ,梁启东 单位:中国原子能科学研究院 出版:《原子能科学技术》1984年第02期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFYZJS1984020220 DOC编号:DOCYZJS1984020229 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 一、引言元件内压是元件设计的重要因素,它是由元件内所充的氦气、吸附气体和释放的裂变气体所造成的。由于裂变原子大约有1/8是不易溶于UO_2的氪和氙,它们的聚集和释放直接影响着芯块的肿胀,气隙热导和元件内压。由于元件在堆内运行时裂变气体释放有其独特的行为,需要直接测量运行元件的内压,以探索裂变气体在堆内的释放特性。元件内压(P)是由自由气体量(n个克分子)、相连的开口孔(包括裂缝)及空腔体积和芯块温度所决定:

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