作者：善羽 单位：沈阳仪表科学研究院有限公司 出版：《仪表技术与传感器》1982年第04期 页数：2页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYBJS1982040170 DOC编号：DOCYBJS1982040179 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 目前采用的各种非破坏法镀层测厚仪，对于一些特殊的镀层(如光亮镀层、多层镀层等)、微电子学中的镀层以及小尺寸复杂零件的镀层等厚度测量还不能完全满足要求。为了控制上述各种镀层的厚度，比较适宜的是采用库仑法来测量镀层厚度。这种方法的优点是具有通用性，也就是说测量结果同镀层——基体材料的组合形式无关；此外，它还有高的测量精度和可靠性。

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